DLS15Z Zeta电位分析仪

         DS15Z Zeta电位分析仪         

 

 

 

一.       性能特点：

* 纳米粒度测量以及zeta电位测量

* 经典90°动态散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm - 15um

* 激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性

* 加持自动恒温技术的最高功率可达50mW，波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用

* 独创的散射光源与参考光束的光纤保偏及分配技术

* 独创的光纤内空间干涉及差拍技术

* 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流的光子检测器

* 温度控制范围可达0℃-90℃，最高温度可选120℃，精度±0.1℃

* 新一代高速数字相关器，动态范围大于1011

* 冷凝控制 – 干燥气体吹扫技术

* 三年质保

 

二.技术参数：

测量原理：动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）

粒径测量角度：90°

粒径测量范围：0.3nm - 15um*

粒径准确度：优于±1%（平均粒径，NIST可溯源标准样品）

粒径重复性：优于±1%（平均粒径，NIST可溯源标准样品）

粒径测量最小样品浓度：0.1mg/ml

粒径测量最小样品量：3ul*

Zeta电位测量范围：-600mV - +600mV

最大电导率：270mS/cm

适用Zeta电位测量的粒径：3nm-100um*

电导率准确度：±10%

分子量范围：340Da – 107Da

温度控制范围：0℃ - 90℃（120℃可选）

温度控制精度：±0.1℃

光源：集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW，波长368nm固体激光器

相关器：高速数字相关器，自适应通道配置

检测器：高灵敏度APD

主机重量：20kg

备注：*取决于样品及选件                                                

订货号：85000951